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電容器的絕緣電阻（IR，Insulation Resistance）描述了其電極之間漏電流的大小。理論上，電容器的電極之間是完全絕緣的，因此電阻值應(yīng)為無(wú)窮大。但實(shí)際上，由于介質(zhì)材料的特性，也總會(huì)存在微小的漏電流，導(dǎo)致有限的電阻值。

通過(guò)觀(guān)察電容的漏電電流，我們可以判斷電容是否產(chǎn)生漏電現(xiàn)象，從而對(duì)電容內(nèi)部是否損壞產(chǎn)生一個(gè)初步判斷。 當(dāng)電容陶瓷的連續(xù)性被破壞，內(nèi)部裂痕使得介質(zhì)材料的結(jié)構(gòu)完整性受損，從而增加了電極之間的漏電路徑。
以上圖為基準(zhǔn)，這時(shí)漏電電流較高，曲線(xiàn)在漏電電流部分上升，且不會(huì)趨于平穩(wěn)。

依據(jù)我司規(guī)格書(shū)中標(biāo)準(zhǔn)，假設(shè)現(xiàn)在取一顆C0805 X5R 106K 50V的電容對(duì)其進(jìn)行計(jì)算絕緣電阻。當(dāng)額定電壓≤50V時(shí)，絕緣電阻數(shù)值應(yīng)大于10GΩ或100Ω·F（取兩者最小值）。第一項(xiàng)10GΩ很好理解，但第二項(xiàng)想要得到具體的數(shù)值，需要經(jīng)過(guò)以下計(jì)算：

因此，此型號(hào)電容的漏電流只需要小于0.63μA即為合格。