靜電放電(ESD, Electrostatic Discharge)和電擊穿(Dielectric Breakdown)能夠?qū)е沦N片電容短路,其原因在于靜電放電過程和過高電壓產(chǎn)生的瞬時(shí)高電流對(duì)電容器內(nèi)部結(jié)構(gòu)造成的破壞。
雖內(nèi)部疊層因高溫造成的融化和內(nèi)電極搭接,使原本絕緣的電容形成通路,造成電容短路。
機(jī)械裂(Mechanical Crack)可能導(dǎo)致電容器內(nèi)部電極層斷裂或移位。如果電極層斷裂后的一部分接觸到另一電極層,形成直接導(dǎo)通路徑,都會(huì)導(dǎo)致短路。
上圖電容已被應(yīng)力掰碎,黑色電極部分已有搭接風(fēng)險(xiǎn),最終造成電容短路。
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